上兩篇文章已經大致上說明了如何利用DIS的Test Schedule來査修問題，今天，我們一樣要利用這個功能來檢查看看GM模組的錯誤碼。
GM錯誤碼
透過P-Bus與GM模組連線，由下圖可以看出來，與Door Module及Slide/tilt-sunroof Module之間的溝通都正確。
連線完成之後，直接選擇4 Central-locking system。
進入Central Locking ZV選項中。
進入Expert Mode中後選擇4 Read Fault Memory
讀取錯誤碼之後會出現"93 Central-locking drive, Driver's door"，以上代表的意思是，這個錯誤碼是跟駕駛座的中控鎖有關；到這個步驟，小弟其實已經知道問題點了，答案等一下在公布。
選擇93這個選項之後，則進入錯誤碼的解釋畫面，這個畫面告訴我們，目前這個錯誤並不存在，但是，從過去到現在共發生1次。(其實不只一次，小弟有Reset幾次這個錯誤碼)
使用Test Module繼續檢查這個問題。
選擇1進入Central-locking drive, driver's door的測試模組，並按著螢幕上的指示來進行；以下的畫面上是要求要按中控鎖一下，看看是否會出現"Pressed"及"Rest Position"。很不幸的只有出現"Pressed"，而沒有出現"Rest Position"。
選擇2 No. 中止Central-locking drive, driver's door的測試；並選擇Central-locking button的測試；此時，DIS是認為與中控鎖按鍵有關，但是，不對喔，存在記憶體內的錯誤碼是與駕駛座的中控鎖有關，應該跟中控鎖按鍵無關，不過，我們還是依照DIS的指示來測試中控鎖按鍵。
進入中控鎖按鍵的測試模組之後，還是依照畫面上的指示來按一下中控鎖按鍵，還是只有出現"Pressed"而沒有出現"Rest Position"，所以，我們還是選擇2 No，繼續進行下一個步驟。
進入下一個步驟之後，DIS會需要你將中控鎖按鍵拆起來，然後用三用電表來量測一下接頭上的Pin 2及3的電阻值，當按住按鍵時的電阻值應該小於1歐姆，當放開按鍵時的電阻值應該要大於1M歐姆，如果不在這個範圍內時，則有可能中控鎖的按鍵壞了。
各位別以為小弟很厲害會真的將中控鎖按鍵拆起來，然後按照指示來量測電阻值吧？如果會拆按鍵的話，的確小弟可能會考慮拆下來，並按照指示來量測看看，但是，小弟就是不知道要如何拆，另外，剛剛在進入中控鎖按鍵測試模組之前，其實小弟已經知道問題點了，所以，更不可能再去拆中控鎖按鈕；那問題點是啥? 問題點是在於，因為小弟曾經自己拆過駕駛座的門板檢修一下喇叭，在安裝門板時，有碰到駕駛座的中控鎖，導致駕駛座的中控鎖在按下中控鎖按鍵之後與副駕駛座及乘客座的鎖住時間不同步(希望以上的描述不會太深奧)，換句話說，當按下中控鎖按鍵之後，副駕駛座、乘客座的中控鎖是同時間鎖住，但唯獨駕駛座的那個中控鎖會晚0.1sec(猜的)，也就是因為如此，行車電腦認定這個GM模組有問題，因而產生錯誤碼，也不知道這樣靈敏的感應是好還是不好。
所以，雖然有DIS可以提供協助，但是，還是要稍微判斷一下真正的原因，畢竟人腦還是比電腦聰明，不是嗎？
以上
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